ICカード装置・半導体テスターの製造販売
株式会社テストラム

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半導体の分かるICカード関連装置メーカです。

テストラムは、できないことはやりません。『できたらいいな』を一緒に考えさせて下さい。

※より詳しい最新情報につきましては弊社WEBサイトをご覧ください。

ICカード関連装置

企業理念

テスターの未来は私たちが開きます。

日本経済の最も先端の部分を支える半導体産業。従来型の産業構造から脱却し、次世代日本を担う牽引力と目されているこの半導体産業は、熾烈な国際競争のなかで品質、性能、生産力とあらゆる面で鍛え上げられ、今や世界最高水準を獲得しています。

私達テストラムは、この半導体産業において重要な役割を果たすテストシステムの分野で、独自の製品開発/販売を続けてまいりました。

創業以来、常識や因習に固執することなく、自由闊達に技術・意見交換が行える若い社風をモットーとし、刻々と変化し続ける開発の現場で求められているものは何か、これから先求められるであろうテスターの資質とは何かを先取りする姿勢を固持。

技術と、独創性においては他よりも一歩も二歩もリードするアドバンテージを主張し、創業から僅か数年で着実に信頼と、実績を築き上げてまいりました。

常に環境の変化に敏感であり、あらゆる可能性に挑むことを恐れない。
新しい技術情報に耳を傾けることを怠らず、我々が得意とする分野に全社の総力を投入する。
自分達の夢を信じ、可能性を語り合った創業当時からの熱意と、チャレンジャー精神を変わることのない伝統として受け継ぎ、私達はこれからも着実に時代を支える技術成果を世に送り出してまいります。

製品情報

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ICカード・タグテスター

※詳細な仕様やお問合せは弊社WEBサイトてお願い致します。

T8300MkII[非接触カードの評価装置]

ICカード・タグテスター

「ISO14443準拠」の安心を、あらゆる非接触ICカードに。

ISO14443に規定された、非接触ICカードの能力を測定します。
リーダライタからの信号を自在に変化させ、RFの強さ、変調度、周波数、変調タイミングなどに、
対応できる範囲を明らかにします。ICの受信能力及び、ICからの送信信号の特性を数値化します。

※タイプA・タイプB・ソニー製FeliCa(タイプC)対応。
(注)「FeliCa(フェリカ)」は、ソニー株式会社の登録商標です。

T8200[量産向け装置]

T8200[量産向け装置]

アンテナ品質バラツキの心配から、お客様を全速力でお守りします。

量産を意識した、ICタグ・ICカードのアンテナの共振周波数とQ値を測定する検査装置です。

同時測定数は8~32アンテナ。一回の測定に必要な時間は、わずか0.5秒。
量産現場で求められる、高いスループットとコストパフォーマンスを実現し、
さらに品質の安定したICタグ・ICカードの出荷をサポートします。

アンテナデザインの変更などのリクエストにも対応します。
装置はコンパクトで、生産装置への組込みも可能です。
生産ラインに組み込む際には、1chから32chまで同時測定を行いPASS/FAILの判定を行います。

故障しにくく保守も容易で、お客様に「見える」安心感をご提供します。

T8200UD ICカードテスター[共振周波数検査機]

T8200UD ICカードテスター[共振周波数検査機]

RFIDの周波数特性検査を低価格で実現します。

周波数特性検査に必須であったネットワークアナライザがポータブルな検査ユニットで容易に実現できます。

直ぐに使えるアプリケーションで
 ・生産検査
 ・品質検査
を本格的にサポートします。

多種多様なワークの検査が可能で様々なシーンに対応します。
(オプションにてカードサイズ以外の測定アンテナも製作します)
 ●非接触ICカード
 ●NFC搭載製品
 ●RFIDタグ(HF帯)
 ●チップ未実装のRFIDアンテナ

標準タイプの他にDIO装備タイプもあります。

T8000[接触カードの検査発行装置]

T8000[接触カードの検査発行装置]

半導体を知り尽くした技術。確実さに支えられた多彩な機能。

接触型ICカードのDC測定を自動測定し、
コマンドファイルによるデータエンコードを自動処理する装置です。

ATRの波形モニターも可能です。
操作は、ICカードをテスターに挿入するだけのシンプルさ。検査結果も自動的に出力されます。
生産ラインに組み込む際には、1ch~32chの同時測定を行い、PASS/FAILの判定を実行します。

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ICカード関連装置【生産装置】

※詳細な仕様やお問合せは弊社WEBサイトてお願い致します。

接触・非接触ICカード検査発行装置

接触・非接触ICカード検査発行装置

2次発行前の、品質への安心を強力サポート。

接触型・非接触型ICカードの検査・0次・1次発行を行い、
2次発行前のファイナルテストを行う装置です。

コンビ型・デュアル型のICカードに対応しています。
反り厚み・通信・接触部・非接触部の検査・印字・発行を行い、さらに強電界印加テスト・Q値測定を追加する事もできます。

接触・非接触 同時検査・発行を20chの実績で、大量生産を強力にサポートします。
IDデータはホストPCで管理し、いつも「何を生産しているのか分かる」安心感をご提供します。
量産現場で求められる安定・長時間稼動にも、自信があります。

接触・非接触COT検査発行装置

接触・非接触COT検査発行装置

2次発行前の、品質への安心を強力サポート。

接触型・非接触型ICカードの検査・0次・1次発行を行い、
2次発行前のファイナルテストを行う装置です。

コンビ型・デュアル型のICカードに対応しています。
反り厚み・通信・接触部・非接触部の検査・印字・発行を行い、さらに強電界印加テスト・Q値測定を追加する事もできます。

接触・非接触 同時検査・発行を20chの実績で、大量生産を強力にサポートします。
IDデータはホストPCで管理し、いつも「何を生産しているのか分かる」安心感をご提供します。
量産現場で求められる安定・長時間稼動にも、自信があります。

ICカード用モジュール剥がれ検査装置

ICカード用モジュール剥がれ検査装置

出荷後にわたって、「絶対の安心」を差し上げます。

ICカードに長辺方向、短辺方向に応力をかけ、
接触型ICカードに搭載されているICカードモジュールの接着不良を検出する装置です。(検出方法は特許出願中)

このような検査によって、「将来剥がれる可能性のあるモジュール」を検出し、
過酷な場面で用いられるICカードの出荷に、絶大な安心感をご提供します。

ジャンパー・アンテナ端子溶接装置

ジャンパー・アンテナ端子溶接装置

「剥がれないアンテナ」は、「薄さ・安定品質」というメリットをもたらします。

ICタグ、ICカード用アンテナ加工の際、ジャンパー部、アンテナ端子部を抵抗溶接で接合する装置です。

カシメ加工よりも薄く強度が高く、抵抗値のバラツキがないアンテナを製造することが出来ます。
片面エッチングのアンテナにジャンパー移載溶接をすることにより、
両面エッチングが不要になり、生産コストを低減することができます。

またオプションにて、アンテナの共振周波数測定(VRF8200P)、ICタグ特性検査(HF帯、UHF帯対応)を行うことも可能です。

ホログラム・サインパネル検査装置

ホログラム・サインパネル検査装置

独自の特殊光学系を駆使。

サインパネル(署名欄)、ホログラムを測定、評価することでカードの品質管理向上に寄与します。

本装置は、ICカード券面のホログラム・サインパネルの良否判定を行います。
カードの供給及び収納は専用マガジンを用い、最大6本のマガジンをセット可能です。

また、供給、収納マガジン部にはイオナイザを配置し、カードの徐電及び帯電防止を行います。

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ICカード関連装置【開発装置】

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曲げストレス耐久試験機

曲げストレス耐久試験機

ISO/IEC10373-1、又はJISX6305-1、及びISO/IEC CD24789-2:2008-04 準拠

ICカードの曲げ特性に関するストレス耐久試験をおこなう装置で、設定回数に達すると自動停止する機能を有します。
連接棒を交換する事により、長辺と短辺を切り替えます。

安全機構として、非常停止スイッチとインターロック式カバーを採用。

ねじれストレス耐久試験機

ねじれストレス耐久試験機

ISO/IEC10373-1、又はJISX6305-1、及びISO/IEC CD24789-2:2008-04 準拠

ICカードのモジュール部に特化した曲げ特性に関するストレス耐久試験をおこなう装置で、
設定回数に達すると自動停止する機能を有します。

安全機構として、非常停止スイッチとインターロック式カバーを採用。

モジュール部曲げストレス耐久試験機

モジュール部曲げストレス耐久試験機

ISO/IEC10373-1、又はJISX6305-1、及びISO/IEC CD24789-2:2008-04 準拠

ICカードのねじれ特性に関するストレス耐久試験をおこなう装置で、設定回数に達すると自動停止する機能を有します。

安全機構として、非常停止スイッチとインターロック式カバーを採用。

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半導体テスター

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V2048

高集積多ピンデバイスの、量産を強力サポート。

最大4個の同時テストを行うことができます。
リーズナブルな価格設定により、テスタ本体の増設も容易。

高い耐故障性と明快なユーザインタフェースで、効率的な量産をお手伝いします。

【特徴】

・最大2048ピン(PMU最大128個)
・最大60Aの大電流電源(HCDPS)を搭載可能
・最大4DUT同時測定
・JTAG等による設定/情報読み出しに対応するファンクション機能(最大144ピン)を用意

V8000

半導体テスター

テストレート20MHzの、新しい地平へ。

20MHz帯の高付加価値LSI開発を、フレキシブルに支援します。
お客様の新しいアイディアから、市場までの距離を短縮します。

【特徴】
・20MHzのテストレート
・最大256ピンI/O
・最大8DUT同時測定。さらにSPMU搭載でテスト時間短縮に貢献
・V800、V777、V7100との上位互換性

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会社概要

社名
株式会社テストラム
代表者
代表取締役 広田 良成
所在地

【本社】
〒561-0871 大阪府豊中市東寺内町14番29号 ドエルパークサイド1F
TEL : 06-6821-3557 FAX : 06-6821-3561

【東京支店】
〒102-0072 東京都千代田区飯田橋1丁目12番1号 Daieishaビル5F
TEL : 03-3515-6416 FAX : 03-3515-6417

【株式会社V-SAT】
〒561-0871 大阪府豊中市東寺内町14番29号 ドエルパークサイド1F
TEL : 06-6821-8567 FAX : 06-6821-3561

資本金
10,000,000円
設立
平成2年5月2日
事業内容
・ICカード、ICタグのテスト及び発行装置の企画、製造販売
・半導体検査装置、及びその自動化装置の販売
・システムソフト、及びそのアプリケーションソフトの開発
主な取引先
凸版印刷株式会社
ローム株式会社
パナソニック株式会社
株式会社 東芝
大日本印刷株式会社
日立マクセル株式会社
ソニー株式会社
トッパン・フォームズ株式会社
昌栄印刷株式会社
シャープ株式会社
株式会社リコー
富士通株式会社
(順不同)

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